分體式測厚儀ET-1500P

一、產(chǎn)品特色

率先采用雙核處理架構(gòu)，32位ARM處理器，顯著提升運算效率；

獨家采用128*128高分辨率點陣液晶；

最高可達5毫米超寬測量范圍；

大點陣液晶屏，標準化菜單操作；

超限紅色背光報警；

兩種測量模式：單次（Single)和連續(xù)(Continuous)；

兩種組模式：直接組(DIR)和通用組(GEN),一個直接組和四個通用組，每組可存儲500個數(shù)據(jù)；一共2000個數(shù)據(jù)。

可零校準，擁有全自動校準算法，省去人工反復(fù)校準；

用戶可隨時查看當前工作組已測得的數(shù)據(jù)，并刪除指定數(shù)據(jù)或整組數(shù)據(jù)；

實時顯示當前工作組統(tǒng)計值：平均值(Mean),最小值(Min)，最大值(Max),標準方差(Sdev)；

探頭模式:磁感應(yīng)+渦流效應(yīng)

可為各組單獨設(shè)置高低限報警值，超限時屏幕指示報警；

可開啟或關(guān)閉自動關(guān)機功能；

USB接口可傳輸通用組數(shù)據(jù)到計算機；

低電和錯誤提示；

適合惡劣條件使用；

 

二、應(yīng)用場景

本儀器能無損傷、快速、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。它能廣泛應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域，是材料表面處理工程必備的儀器。它可以穩(wěn)定地工作于實驗室、車間現(xiàn)場和戶外。 三、技術(shù)指標

 

測量原理：磁感應(yīng)（F探頭）+渦流效應(yīng)（N探頭）

測量范圍：可定制

測量精度（典型值）：± (讀數(shù)的2%+1um)；

分辨率：0um~99um(0.1um), 100um~999um (1um), 1000um~5000um (0.01mm)；

校準：零、點校準;

數(shù)據(jù)存儲與分組：一個直接組（數(shù)據(jù)不保存）和四個通用組（數(shù)據(jù)可被保存），每組有單獨的統(tǒng)計，報警上下限設(shè)置和校準設(shè)置；

統(tǒng)計值：支持平均值、最小值、最大值和標準方差；

支持單位：um, mm, mils；

報警：用戶可設(shè)置上下報警限，當發(fā)生報警時，液晶屏幕可顯示提示；

最小曲率半徑：凸5mm，凹25mm；

最小測量面積：直徑20mm；

最小基材厚度：0.2mm（F探頭）

電腦接口：可通過USB口連接計算機下載數(shù)據(jù)；

電源：三節(jié)1.5V AAA電池；

操作溫度：0~40℃；

保存溫度：--20℃ to 70℃；

四、型號對比

 

型號	ET-1500P
探頭	磁感應(yīng)（F）+渦流效應(yīng)（N）
其他指標	測量范圍：定制 測量精度：± (讀數(shù)的2%+1um)； 分辨率：0um~99um(0.1um), 100um~999um(1um), 1000um~5000um (0.01mm)； 校準：零點校準； 數(shù)據(jù)存儲與分組：一個直接組（數(shù)據(jù)不保存）和四個通用組（數(shù)據(jù)可被保存），每組有單獨的統(tǒng)計，報警上下限設(shè)置和校準設(shè)置； 統(tǒng)計值：支持平均值、最小值、最大值和標準方差； 支持單位：um, mm, mils； 報警：用戶可設(shè)置上下報警限，當發(fā)生報警時，液晶屏幕可顯示提示； 最小曲率半徑：凸5mm，凹25mm； 最小測量面積：直徑20mm； 最小基材厚度：0.2mm（F探頭） 電腦接口：可通過USB口連接計算機下載數(shù)據(jù)； 電源：三節(jié)V AAA電池； 操作溫度：0~40℃； 保存溫度：--20℃ to 70℃； 尺寸：110mm*53mm*24mm； 重量：92g
	探頭：可選